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本发明提出一种电气设备外壳的寿命评估方法，该方法为采用X射线荧光光谱法检测电气设备中外壳的金属部件的金属元素；根据电气设备外壳的健康水平指数确定电气设备外壳的老化常数；修正电气设备外壳预期运行年限；计算电气设备老化健康水平指数；根据电气设备...该专利属于国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院;沈阳工业大学;国家电网公司所有，仅供学习研究参考，未经过国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院;沈阳工业大学;国家电网公司授权不得商用。