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本发明公开了一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统，包括：历史缺陷图片对比装置、IPC标准对比装置、信息远程控制装置和数据处理装置。通过上述方式，本发明基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统，通过远程控制多台设备，操作员根据二维自动...
该专利属于伟创力电子技术(苏州)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过伟创力电子技术(苏州)有限公司授权不得商用。

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