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面向双能CT成像的X射线能谱探测及重构解析方法技术
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下载面向双能CT成像的X射线能谱探测及重构解析方法的技术资料
文档序号:17653314
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本发明涉及利用半导体探测器进行X射线能谱探测及解析领域,为提出一种面向双能CT成像的X射线能谱探测及重构解析方法,可以解析获得不同能量段的投影信息并用于图像重建,可以在降低辐射剂量并实现多能动态组合成像,提升CT系统成像的动态范围。为此,本...
该专利属于天津大学所有,仅供学习研究参考,未经过天津大学授权不得商用。
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