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一种校正装置用于校正磁致伸缩传感器，其中，所述磁致伸缩传感器用于测量一物体且其包括与该物体相邻的传感元件。所述校正装置包括估算装置和修正器。所述估算装置被配置成基于所述磁致伸缩传感器的几何信息、激励信号和输出信号，及所述物体的几何信息，估算...
该专利属于通用电气公司所有，仅供学习研究参考，未经过通用电气公司授权不得商用。

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