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本公开提供用于评估有机发光二极管（“OLED”）器件的沉积膜层质量的技术。图像被捕捉并滤波以识别要分析的沉积层。表示该层的图像数据可以被可选地转换为亮度（灰度）数据。然后梯度函数被应用以强调沉积层中的不连续性。然后不连续性被与一个或多个阈值...
该专利属于卡帝瓦公司所有，仅供学习研究参考，未经过卡帝瓦公司授权不得商用。

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