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本发明涉及一种用于原位检验的独立负载框架。用于在测试或者测量过程中向测试样品施加张力负载的负载框架包括：第一夹持器，此第一夹持器用于夹持测试样品的第一端；第二夹持器，此第二夹持器用于夹持测试样品的第二端；以及张力装置，此张力装置用于向测试样...
该专利属于波音公司所有，仅供学习研究参考，未经过波音公司授权不得商用。

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