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本实用新型公开了一种基于曲面基准件的二维位移测量系统，包括光学测头和曲面基准件，在曲面基准件上设有曲面阵列；光学测头包括激光器、孔径光阑、反射镜、分光棱镜、成像透镜、CCD相机以及数据处理模块，激光器发出的准直光束经孔径光阑缩成细直光束，细...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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