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本发明涉及一种用于测量激光源的频率调制f(t)的方法，其包括以下步骤：‑用调制控制器对一个周期T上的激光源进行调制，‑在相同的周期T期间，执行干涉仪的两个臂之间的差拍光强度的多个测量，所述干涉仪位于激光源的下游，并能够在所述两个臂之间引入延...
该专利属于泰勒斯公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰勒斯公司授权不得商用。

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