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本发明涉及一种用于鉴定单同位素质量或与样品中含有的和/或通过至少电离过程从样品产生的至少一种分子的同位素分布的同位素质量相关的参数的方法。该方法包括以下步骤：(i)用质谱仪测量样品的质谱(ii)将所述样品的所述质谱的测量的m/z值的至少一个...
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