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本发明属于仪控系统的技术领域，为了解决现有技术中存在的算法块功能遍历测试中存在的测试效率低、测试结果不准确的技术问题，本发明提供一种能够同步开展多个算法块的仪控系统平台逻辑算法块测试装置和方法；所述测试装置包括：信号产生模块，用于产生用于测...该专利属于北京广利核系统工程有限公司;中国广核集团有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京广利核系统工程有限公司;中国广核集团有限公司授权不得商用。