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综合孔径投影辐射的系统成像方法及综合孔径投影辐射计技术方案
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文档序号:17465324
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本发明公开了综合孔径投影辐射的系统成像方法及综合孔径投影辐射计,本发明方法以一维线性稀疏阵列作为辐射计的探测扫描阵,将其固定于圆周扫描平台上按固定步进角度对目标场景进行旋转扫描,实现对二维场景的1D投影图像的旋转探测;然后,根据阵列探测角对...
该专利属于南京邮电大学所有,仅供学习研究参考,未经过南京邮电大学授权不得商用。
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