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多梁式单质量块面内双轴加速度传感器芯片及其制备方法技术
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文档序号:17465016
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本发明公开多梁式单质量块面内双轴MEMS压阻式加速度传感器芯片及其制备方法,传感器芯片采用SOI硅片制造,包括芯片外框架、主支撑梁、连接梁、副支撑梁、敏感压阻微梁、质量块以及金属引线和焊盘。主支撑梁一端固定于芯片外框架,另一端与连接梁相连,...
该专利属于西安交通大学所有,仅供学习研究参考,未经过西安交通大学授权不得商用。
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