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本发明涉及JTAG调制装置以及JTAG调试方法。JTAG调试装置用于调试芯片中的待调试单元，JTAG调试装置包括：TAP控制器，被配置为经由外部的JTAG端口与外部进行通信，并基于从JTAG端口接收的信号生成包含待调试单元地址以及调试指令的...
该专利属于华为技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华为技术有限公司授权不得商用。

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