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本发明公开了一种测定多孔介质水分特征曲线的方法，包括：将待测多孔介质置于砂箱中；砂箱的一侧设置一可见光光源，另一侧设置一个与待测多孔介质一体的暗箱；可见光光源发出的光线透过待测多孔介质后，被设置于暗箱内的CCD相机接收，并利用相机控制软件M...
该专利属于南京大学所有，仅供学习研究参考，未经过南京大学授权不得商用。

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