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一种可用于深紫外极弱光探测高纯纳米结构ZnGa2O4的制备方法技术
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文档序号:17416954
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本发明公开了一种可用于深紫外极弱光探测的高纯纳米结构ZnGa2O4的制备方法。ZnGa2O4带隙宽度为4.4‑4.7eV,具有优异的热学和化学稳定性、较高的电子迁移率,能承受较高电流冲击,可用于深紫外光电探测器、发光二极管、低电压发光。本发...
该专利属于南京理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过南京理工大学授权不得商用。
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