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本发明公开了一种基于倏逝波的离子浓度测试芯片,包括芯片本体,所述芯片本体包括衬底、波导和包层,包层将波导包裹在衬底上,且在包层上与波导相对应的位置设置有微槽,微槽的宽度大于波导的宽度,且在微槽的内壁涂覆有待测离子物质荧光识别材料。以及制作方...该专利属于河南仕佳光子科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过河南仕佳光子科技股份有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种基于倏逝波的离子浓度测试芯片,包括芯片本体,所述芯片本体包括衬底、波导和包层,包层将波导包裹在衬底上,且在包层上与波导相对应的位置设置有微槽,微槽的宽度大于波导的宽度,且在微槽的内壁涂覆有待测离子物质荧光识别材料。以及制作方...