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本发明一种测量分子转动能级结构的方法。本发明基于常规的分子电离光谱技术实现分子的电离和探测，如果需测量的分子转动能级上有分子布居，引入脉冲亏蚀激光将分子由基态转动态转移到激发态转动态从而使基态分子数目发生了转移损耗，扫描亏蚀光的频率时记录基...
该专利属于山西大学所有，仅供学习研究参考，未经过山西大学授权不得商用。

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