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本发明公开了一种非制冷红外探测器的两点校正方法，利用两种辐射率不同的材料做挡片，对探测器进行两点校正。首先搭建非制冷红外探测器的两点校正系统，包括：挡片A、挡片B、探测器及输出电路模块、挡片控制模块和FPGA数据处理模块；然后利用探测器及输...
该专利属于北京遥感设备研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京遥感设备研究所授权不得商用。

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