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本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种集成电路板用可调节高度的测试装置。本发明要解决的技术问题是提供一种方便调节高度且方便工作人员检测的集成电路板用可调节高度的测试装置。为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种集成电路板用可调节高度的测试装...
该专利属于杜俊慧所有，仅供学习研究参考，未经过杜俊慧授权不得商用。

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