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本发明公开了一种非接触二维尺寸检测装置，其特征在于包括：底板（1）、联接板（2）、螺杆（3）、调节螺母（4）、横条（5）、直线导轨（6）、滑块（7）、支架（8）、磁栅尺（9）、调焦镜头（10）和被测零件（11）。本装置利用二维坐标检测及测量...
该专利属于北京遥感设备研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京遥感设备研究所授权不得商用。

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