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包括激活掺杂剂的制造方法和具有陡峭结的半导体装置制造方法及图纸
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下载包括激活掺杂剂的制造方法和具有陡峭结的半导体装置的技术资料
文档序号:17252073
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晶格空位在半导体层(700)的与工艺表面(701)直接邻接的预处理区(710)中生成。掺杂剂至少注入到所述预处理区(710)中。通过用激光束(850)照射所述工艺表面(701),来加热所述半导体层(700)的熔化区(712),激活至少在所述...
该专利属于英飞凌科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过英飞凌科技股份有限公司授权不得商用。
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