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本发明涉及一种随机抽取装置，尤其涉及一种集成电路测试用随机抽取装置。本发明要解决的技术问题是提供一种省时省力、抽取科学、有利于合格率准确计算的集成电路测试用随机抽取装置。为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种集成电路测试用随机抽取装置，...
该专利属于杜俊慧所有，仅供学习研究参考，未经过杜俊慧授权不得商用。

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