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本实用新型涉及检测电路的技术领域，具体涉及一种新型单片机过零检测器，其特征在于：包括光电耦合高压采样部件和单片机及过零识别程序，所述光电耦合高压采样部件由光电耦合器FOD814和两个采样电阻构成。其有益效果在于：不直接去提取市电零点，而是增...
该专利属于重庆编福科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过重庆编福科技有限公司授权不得商用。

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