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本实用新型涉及电子测试技术领域,尤其是一种精密测试探针。它包括由纵向截面形状呈横置的“U”形的第一弯曲部和/或纵向截面形状呈“S”形的第二弯曲部连续衔接而成的弹性缓冲部、由弹性缓冲部的顶端沿纵向方向向上作弯折后形成的检测端部及由弹性缓冲部的...该专利属于健坤精密科技(深圳)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过健坤精密科技(深圳)有限公司授权不得商用。
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本实用新型涉及电子测试技术领域,尤其是一种精密测试探针。它包括由纵向截面形状呈横置的“U”形的第一弯曲部和/或纵向截面形状呈“S”形的第二弯曲部连续衔接而成的弹性缓冲部、由弹性缓冲部的顶端沿纵向方向向上作弯折后形成的检测端部及由弹性缓冲部的...