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一种基于主动轮廓和能量约束的筛板前表面深度测量方法技术
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文档序号:17197301
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本发明公开了一种基于主动轮廓和能量约束的筛板前表面深度测量方法,该方法采用基于k均值聚类和主动轮廓的Bruch膜开口点测定方法和基于能量约束的筛板前表面分割方法,首先将k均值聚类的聚类图作为C‑V主动轮廓模型的初始轮廓,提取出轮廓中的Bru...
该专利属于中南大学所有,仅供学习研究参考,未经过中南大学授权不得商用。
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