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本发明公开了一种基于内部脉冲注入的单粒子瞬态效应评估系统，通过对待测电路的逻辑门添加脉冲注入单元后的输出结果，与标准测试电路的输出结果进行对比，根据对比结果来评估单粒子瞬态效应；本发明是基于硬件电路的评估方法，既具有物理故障注入的快速性、真...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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