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本发明公开了一种TDI红外探测器组件盲元检测及替换方法，其包括以下过程：S1：低温黑体下TDI模式图像采集；S2：低温黑体下BYPASS模式下图像采集；S3：高温黑体下TDI模式图像采集；S4：高温黑体下BYPASS模式图像采集；S5：盲元...
该专利属于天津津航技术物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过天津津航技术物理研究所授权不得商用。

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