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本发明公开了一种半导体照明产品散热性能检测装置，包括检测装置，所述检测装置包括以下步骤：步骤1：提供待检测设备，置于检测平台上；步骤2：在高温状态下通电30分钟，检测30分钟内待检测设备的温度线性变化斜率K1；步骤3：待步骤2中的待检测设备...
该专利属于重庆秉为科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过重庆秉为科技有限公司授权不得商用。

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