温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供了一种红外热成像快速无损检测薄膜厚度均匀性的方法。该方法利用加热装置提供均匀、稳定的热通量加热待测薄膜，加热后的薄膜向外发出红外辐射，红外摄像装置接收辐射信号，并将辐射信号转变成电信号，经后处理装置处理后，将待测薄膜表面的温度分布...
该专利属于湘潭大学所有，仅供学习研究参考，未经过湘潭大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。