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本实用新型公开了一种智能手机自动感光芯片自动化测试系统，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，机械手设置在V50测试机上，且V50测试机上设置有遮挡板和测试平台；待测感光芯片放置在测试平台上后，V50测试机与测试DUT连接，测试DUT...
该专利属于深圳市华宇半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华宇半导体有限公司授权不得商用。

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