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本公开提供一种主板测试电路及相关产品，包括：第一测试点、第二测试点、第三测试点、第四测试点、切换开关；其中，所述切换开关为双通道开关，所述第一测试点与所述切换开关的第一控制口连接，所述第二测试点以及所述第三测试点分别与所述切换开关的两个公共...
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