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本发明公开了一种无线终端的快速诊断方法，在电波暗室中通过至少两个测量天线对被测件进行测量，其特征在于，定义辐射性能合格的被测件为金机，所述方法包括如下步骤：S01.测量天线位于金机的主要辐射方向和主要极化方向所在的平面，通过测量天线对被测件...
该专利属于深圳市通用测试系统有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市通用测试系统有限公司授权不得商用。

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