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本发明公开了一种基于全极化高轨SAR的电离层时变TEC测量方法，包括步骤一：计算方位向合成孔径点数；步骤二：方位向数据补零；步骤三：方位向傅里叶变换；步骤四：方位向信号解压缩，获取等效方位向回波频谱信号；步骤五：方位向逆傅里叶变换；步骤六：...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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