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本实用新型提供封装测试机构，它包括有底座、上盖，其中，底座为一体成形，底座顶部设有下凹的封装定位腔，封装定位腔设有多个极脚孔，极脚孔由下至下贯穿于底座，封装定位腔中心处设有检测电极片；底座一端设有铰块，底座另一端中部设有扣槽，上盖一端通过铰...
该专利属于浙江长兴电子厂有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江长兴电子厂有限公司授权不得商用。

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