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本发明提供了一种天线参数测量方法及装置，该方法应用于控制装置，包括：获取飞行轨迹参数，根据飞行轨迹参数生成飞行轨迹；控制一飞行装置按照飞行轨迹绕待测天线飞行并在飞行轨迹上测量待测天线的天线参数；接收飞行装置发送的携带有天线参数的测量结果。本...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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