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本发明为一种聚乙烯醇系薄膜，其依据ISO14577：2002在下述(1)～(3)的条件下进行纳米压痕试验时的薄膜表面的硬度为65～90MPa。因此，能够获得可以得到无显示坏点、色斑的偏光膜的聚乙烯醇系薄膜。条件(1)测定环境：25℃50％R...
该专利属于日本合成化学工业株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日本合成化学工业株式会社授权不得商用。

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