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本实用新型属于仪器分析技术领域，涉及一种可消除杂散光及透射自身反射影响的分光光度计光路系统。所述的光路系统包括发射挡光罩、光电信号参比接收单元、光源、平凸透镜、样品池、光电信号透射接收单元、透射挡光罩，发射挡光罩将光源遮挡；依次排列的光源、...
该专利属于北京华科仪科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京华科仪科技股份有限公司授权不得商用。

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