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一种广泛适用于微型样品的单剪切性能测试装置，其为满足下述要求的剪切装置：其由中心对称结构的下剪切偶(1)和上剪切偶(2)配对组合构成，单个剪切偶构成如下：紧固连接部(7)、基础部(6)、配合对正部(4)；其中，基础部(6)为圆柱体形状，紧固...
该专利属于中国科学院金属研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院金属研究所授权不得商用。

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