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一种少子寿命测试仪探头和少子寿命测试仪，属于半导体少子寿命测试技术领域，所述探头包括外壳体和探测体，其特征在于，外壳体中部设置圆柱形空腔，圆柱形空腔左右两侧对称设置与之相通的导线管路，导线管路下端设置与之相通的激光器容纳室，激光器容纳室内侧...
该专利属于山东辰宇稀有材料科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东辰宇稀有材料科技有限公司授权不得商用。

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