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形成垂直晶体管器件的方法技术
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文档序号:16781729
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本发明涉及形成垂直晶体管器件的方法,其揭示一示范方法,主要包括:在一衬底上面形成有一第一高度的一初始垂直定向通道半导体结构,形成毗邻该初始垂直定向通道半导体结构的一牺牲间隔体结构,以及于该牺牲间隔体在原位下,进行至少一工艺操作以界定该器件对...
该专利属于格罗方德半导体公司所有,仅供学习研究参考,未经过格罗方德半导体公司授权不得商用。
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