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本发明公开了一种非晶硅薄膜成膜方法,包含:第1步,对覆盖有二氧化硅层的硅基板进行预热处理;第2步,对预热过的硅基板进行第一次等离子体处理;第3步,进行第一次非晶硅成膜;第4步,进行第二次等离子体处理;第5步,进行第二次非晶硅成膜。本发明所述...该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种非晶硅薄膜成膜方法,包含:第1步,对覆盖有二氧化硅层的硅基板进行预热处理;第2步,对预热过的硅基板进行第一次等离子体处理;第3步,进行第一次非晶硅成膜;第4步,进行第二次等离子体处理;第5步,进行第二次非晶硅成膜。本发明所述...