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本发明属于数字填图领域，具体公开一种地物光谱剖面测量方法，该方法包括如下步骤：步骤1，在计算机上配置时间间隔控制器；步骤2，对ASD光谱仪进行优化和白板校准；步骤3，将GPS模块固定在ASD光谱仪上；步骤4，启动步骤1中所述的时间间隔控制器...
该专利属于宋扬所有，仅供学习研究参考，未经过宋扬授权不得商用。

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