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一种用于校准基于电磁辐射的三维成像的方法包括：至少部分地基于从校准工件接收到的电磁波来获得(501)校准成像结果；基于校准成像结果和校准工件的已知厚度剖面，形成(502)校准数据；在校准数据的帮助下，校正(503)至少部分地基于从待成像的样...
该专利属于奥博学术大学;赫尔辛基大学所有，仅供学习研究参考，未经过奥博学术大学;赫尔辛基大学授权不得商用。

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