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本发明适用设备测试技术领域，提供了无线接入点的射频指标测试方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：为待测试无线接入点创建射频指标测试事件以及设置射频指标测试事件的竞争超时时间，通知IQxel设备将射频指标测试事件加入到预设的测试队列，向待测...
该专利属于深圳市共进电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市共进电子股份有限公司授权不得商用。

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