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脉冲中子辐射条件下SRAM的中子单粒子翻转甄别方法技术
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文档序号:16646737
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本发明涉及一种脉冲中子辐射条件下SRAM的中子单粒子翻转甄别方法,包括分类翻转字节;将不同翻转类型的字节对应的翻转位数进行蒙特卡罗模拟计算;统计计算随着翻转位数的累积,不同翻转类型的字节数及不同翻转类型字节包含的翻转位数的变化曲线;提取实验...
该专利属于西北核技术研究所所有,仅供学习研究参考,未经过西北核技术研究所授权不得商用。
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