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本发明公开了一种近场热辐射实验测量装置,涉及辐射换热测试技术领域，解决的技术问题是实现在微纳米尺度下准确测量近场热辐射换热量，测量时横向热辐射损失小且机械结构简单，该装置包括：上位移加载装置（1）、下位移加载装置（2）、密封底盘装置（3）、...
该专利属于桂林电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过桂林电子科技大学授权不得商用。

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