温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种用于分析和检测物体的几何特征或参数的设备，该设备包括：至少一个照亮装置(2)，所述至少一个照亮装置(2)设计成照亮物体(T)的一部分；至少两个摄像机(3)，至少两个摄像机(3)各自被设计成检测物体(T)的由照亮装置(2)照亮的...
该专利属于巴特勒工程商用股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过巴特勒工程商用股份公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。