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基于金纳米棒胶体的光流体芯片光场偏振分布的检测方法技术
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下载基于金纳米棒胶体的光流体芯片光场偏振分布的检测方法的技术资料
文档序号:16545027
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本发明公开了一种基于金纳米棒胶体的光流体芯片光场偏振分布的检测方法,其特征是,包括如下步骤:1)制备金胶以及金纳米棒,准备光流体芯片,搭建测试平台;2)选择合适的激光波长、入射角度以及偏振方式,选用激光作为光源;从激光器输出的激光束入射到样...
该专利属于河海大学常州校区所有,仅供学习研究参考,未经过河海大学常州校区授权不得商用。
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