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氮化镓半导体器件及其制备方法技术
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文档序号:16503485
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本发明涉及半导体材料技术领域,提供一种氮化镓半导体器件包括:氮化镓外延层;以及,设置于所述氮化镓外延层上的氧化铪介质层;设置于所述介质层上的源极、漏极和栅极,所述源极、漏极和栅极分别贯穿所述介质层与所述氮化镓外延层连接;设置于所述源极、漏极...
该专利属于深圳市晶相技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市晶相技术有限公司授权不得商用。
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