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一种层状介质介电常数和厚度同时反演算法制造技术
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文档序号:16482307
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本发明一种层状介质介电常数和厚度同时反演算法,利用菲涅尔定律及射线跟踪原理,考虑到电磁波在不同介质中的折射性质,精准计算出不同天线收发偏移距下信号旅行时的值;对于多层层状介质的探测,将计算得到的上一层的电磁参数作为已知,迭代反演出以下多层层...
该专利属于厦门大学所有,仅供学习研究参考,未经过厦门大学授权不得商用。
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